本应用笔记介绍不用改动外部元件，如何来调整DS3254、DS3253、DS3252和DS3251 DS3、E3、STS-1线路接口单元(LIU)的脉冲设置，包括幅度和脉冲波形等。
DS3254、DS3253、DS3252和DS3251 DS3、E3、STS-1线路接口单元(LIU)在默认工作状态下可以输出符合规范要求的发送脉冲。然而有时为了适应某些特殊应用要求必须调整脉冲输出。本应用笔记诠释应修改哪些寄存器，以及相应的脉冲调整结果。本文还阐述脉冲幅度和脉冲波形的设置，确保得到满意的结果。

幅度调整
利用下面的寄存器，用户可以控制发送脉冲的幅度。
寄存器名称： 测试寄存器C
寄存器地址： 0Ah
寄存器说明： 测试寄存器C (TESTC.6 - TESTC.3)的第6位到第3位调整发送幅度。这些比特设置的效果是递加的， TESTC.6 = 1和TESTC.5 = 1时除外，此时其他幅度设置无效。

第7位：正常工作时，该位必须设置为零。

第6位和第5位：依据下表对这两位进行设置。

第4位：幅度提升4%。

第3位：幅度提升2%。

脉冲宽度和波形调整
使用下面的寄存器，用户可以控制发送脉冲的波形。
寄存器名称： 测试寄存器C
寄存器地址： 0Ah
寄存器说明： 测试寄存器C (TESTC.2至TESTC.0)的第2位到第0位用于对发送脉冲波形进行互不关联的调整。这些位可以用于调整脉冲模板。

第2位到第0位：依据下表对这三位进行设置。

寄存器名称： 测试寄存器D
寄存器地址： 0Bh
寄存器说明： 根据不同的工作模式，该寄存器有不同的作用。由于采用了分段线性方式来构建发送脉冲，因此可以通过调整各段的相对持续时间来改变波形。DS3和STS-1模式时，除了构建脉冲还进行低通滤波。在所有模式下，这些设置不会影响脉冲幅度。

在DS3和STS-1模式时，测试寄存器D (TESTD.7, TESTD.3至TESTD.0)的第7位至第3位通过改变上升周期的持续时间来调整波形。

在E3模式中，测试寄存器D (TESTD.7, TESTD.4至TESTD.0)的第7位、第4位至第0位通过改变上升周期的持续时间来调整波形。

DS3和STS-1模式设置
在DS3和STS-1模式时，低4位的工作相对独立，因此可以采用任意设置组合。例如，同时设置第1位和第2位使脉冲略为加宽，顶部平坦；设置第0位和第3位使脉冲变宽，但是顶部更尖锐一些；设置所有4个比特使脉冲变宽，但是对波形影响不大。

第7位：加倍TESTD.3和TESTD.0两位的拖尾下冲效果。

第6位至第4位：正常工作时，这些位必须设置为零。

第3位：提高拖尾下冲电平。通过提高成形电路驱动脉冲下降沿的持续时间来实现。

第2位：延长脉冲顶部的第二部分(略微提升下冲)。

第1位：延长脉冲顶部的第一部分(略微降低下冲)。

第0位：降低拖尾下冲电平。通过提高成形电路驱动脉冲上升沿持续时间来实现。这不会影响进行独立控制的脉冲幅度。

E3模式设置
在E3模式时，因为理想的脉冲是方波，所以这些位主要影响脉冲的持续时间，但第4位会影响脉冲前沿波形。此外，通过提升幅度(TESTC6:3)，同时降低外部负载电阻(降低幅度)可以使脉冲顶部平坦。

第7位：加倍TESTD.0位的效果。

第6、5位：正常工作时，这些位必须设置为零。

第4位：使脉冲前沿尖锐。

第3位：使脉冲变窄~0.25ns (如果TESTD.7 = 1，该位不起作用。)

第2位：使脉冲变宽~0.25ns。

第1位：使脉冲变宽~0.25ns。

第0位：使脉冲变宽~0.25ns (如果TESTD.7 = 1，则为~0.5ns)