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简易晶振测试
作者:佚名  来源:不详  发布时间:2007-1-25 22:57:35

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简易晶振测试


本文介绍一款简单易作的晶振测试装置,原理电路如附图所示。


图中,V1及其外围元件(包括被测晶振)共同组成一个电容三点式振荡器。当探头X1、X2两端接入被测晶振时,电路振荡。振荡信号经V2射极跟随级放大后输出,经C4耦合、D1、D2倍压整流后为V3提供偏置电流,V3导通,LED发光。若晶振不良或断路,电路则不能起振,因而LED不发光。

该装置结构简单,所用元件极为普遍,而且只要元件质量良好,装配无误,不需调试即可一次成功。探头可利用两个插孔代替。也可以选用带电缆的表笔或测试棒,但引线不宜过长。该测试议可测试频率为450KHz~49MHz的各种晶振,工作电源推荐采用6V叠层电池。


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